表(biǎo)面電(diàn)阻(zǔ)率電(diàn)導率測試既可測量高電(diàn)阻(zǔ)
，又可測微電(diàn)流
。採用了(le)美國Intel公司的大(dà)規模集成電(diàn)路(lù)
,使儀器體積(jī)小(xiǎo)
、重(zhòng)量輕準確度高
。數字液晶直接顯(xiǎn)示電(diàn)阻(zǔ)值和(hé)電(diàn)流
。量限(xiàn)從1×104Ω ～1×1018 Ω
，是(shì)目前(qián)國內測量範圍較寬
，準確度較高的數字非常高阻(zǔ)測量儀
。電(diàn)流測量範圍為2×10-4 ～1×10-16Ａ
。機內測試電(diàn)壓10V/50V/100V/250V/500V/1000V任意可調
。體積(jī)電(diàn)阻(zǔ)率及(jí)表(biǎo)面電(diàn)阻(zǔ)率的測試具有精度高
、顯(xiǎn)示迅速
、性(xìng)好(hǎo)穩(wěn)定
、讀數方便
。 體積(jī)電(diàn)阻(zǔ)率及(jí)表(biǎo)面電(diàn)阻(zǔ)率的測試適用於橡(xiàng)膠
、塑料
、薄膜
、地毯
、織物及(jí)粉體
、液體
、及(jí)固(gù)體和(hé)膏體形(xíng)狀(zhuàng)的各種(zhǒng)絕緣材料體積(jī)和(hé)表(biǎo)面電(diàn)阻(zǔ)值的測定
。 表(biǎo)面電(diàn)阻(zǔ)率電(diàn)導率測試重(zhòng)要性(xìng)和(hé)用途
絕緣材料用於電(diàn)子(zǐ)系(xì)統彼此和(hé)與地面之間隔離
，該材料能(néng)提供零部件的機械支(zhī)撐
。由於此用途
，通常要求具有盡可能(néng)高的絕緣電(diàn)阻(zǔ)
，以(yǐ)與可接受的機械
、化學和(hé)耐熱性(xìng)能(néng)一(yī)致(zhì)
。因(yīn)為絕緣電(diàn)阻(zǔ)或電(diàn)導組合了(le)體積(jī)和(hé)表(biǎo)面電(diàn)阻(zǔ)或電(diàn)導
，當實際使用時(shí)
，要求試驗樣本和(hé)電(diàn)具有有相同的形(xíng)式
，此時(shí)的測量值是(shì)非常有用的
。表(biǎo)面電(diàn)阻(zǔ)或電(diàn)導隨著濕度發生快速變(biàn)化
，然而體積(jī)電(diàn)阻(zǔ)或電(diàn)導則稍微變(biàn)化
，儘管總的變(biàn)化在(zài)一(yī)些變(biàn)化可能(néng)更大(dà)
。
電(diàn)阻(zǔ)或電(diàn)導可用於間接預測某些材料的低頻率電(diàn)介質擊穿和(hé)損耗因(yīn)數性(xìng)能(néng)
。電(diàn)阻(zǔ)或電(diàn)導通常作為濕度含量
，固(gù)化程度 ，機械連續性(xìng)或不同類型老化的間接測量方式
。這些間接測量的效用取決(jué)於通過(guò)理論或經驗研(yán)究確立的相關度
。表(biǎo)面電(diàn)阻(zǔ)的降低可導致(zhì)因(yīn)為電(diàn)場強度降低而發生電(diàn)介質擊穿電(diàn)壓的增加
，或者(zhě)由於應力面積(jī)的增加而發生電(diàn)介質擊穿電(diàn)壓的降低
。
所(suǒ)有的電(diàn)介質電(diàn)阻(zǔ)或電(diàn)導都取決(jué)於電(diàn)化時(shí)間長短和(hé)施加的電(diàn)壓值（除了(le)普通的環境變(biàn)量之外）
。這些因(yīn)素必須已知
，同時(shí)報告
，以(yǐ)使得電(diàn)阻(zǔ)或電(diàn)導測量值有意義
。在(zài)電(diàn)絕緣材料工業(yè)中
，形(xíng)容詞“表(biǎo)觀”通常適用於在(zài)任意選擇(zé)電(diàn)化時(shí)間條件下獲得的電(diàn)阻(zǔ)值
。見X1.4 。
體積(jī)電(diàn)阻(zǔ)或電(diàn)導可通過(guò)在(zài)特定應用場合設計某個絕緣體使用的電(diàn)阻(zǔ)和(hé)尺(chǐ)寸數據(fù)計算得出
。研(yán)究已經表(biǎo)明電(diàn)阻(zǔ)或電(diàn)導隨著溫度和(hé)濕度的變(biàn)化而變(biàn)化（1
,2
,3
,4）4
，同時(shí)在(zài)設計工作條件時(shí)
，必須已知這種(zhǒng)變(biàn)化
。體積(jī)電(diàn)阻(zǔ)或電(diàn)導測量值通常用於檢查絕緣材料的均(jūn)勻性(xìng)
，或者(zhě)對於加工
，可探測影(yǐng)響材料質量的導電(diàn)雜質
，而這不容易通過(guò)其它方法觀察到
。
體積(jī)電(diàn)阻(zǔ)超過(guò)1021Ω·cm(1019Ω·cm)時(shí)
，樣本在(zài)普通實驗室條件測試獲得的數值計算得出體積(jī)電(diàn)阻(zǔ)
，如果(guǒ)結果(guǒ)確實可疑
，則應考(kǎo)慮通常使用的測量設備(bèi)的局限(xiàn)性(xìng)
。
表(biǎo)面電(diàn)阻(zǔ)或電(diàn)導不能(néng)準確測量
，只能(néng)近似測量
，因(yīn)為體積(jī)電(diàn)阻(zǔ)或電(diàn)導總是(shì)受到測量方法的影(yǐng)響 。測量值還受到表(biǎo)面污染的影(yǐng)響
。表(biǎo)面污染及(jí)其積(jī)聚速度受到許多因(yīn)素的影(yǐng)響
，包(bāo)括(kuò)靜電(diàn)充電(diàn)和(hé)界面張力
。這些因(yīn)素反過(guò)來可以(yǐ)影(yǐng)響表(biǎo)面電(diàn)阻(zǔ)
。當包(bāo)括(kuò)污染
，但是(shì)在(zài)通常常識下判斷不是(shì)電(diàn)絕緣材料的材料性(xìng)能(néng)時(shí)
，此時(shí)表(biǎo)面電(diàn)阻(zǔ)或電(diàn)導可視為與材料性(xìng)能(néng)相關
。
