開爾文探針（Kelvin Probe）是一種非接觸無損(sǔn)震蕩電容(róng)裝(zhuāng)置 ，用於測量導體材料的功函數（Work Function）或半(bàn)導體 、絕緣表面的表面勢（Surface Potential） 。材料表面的功函數通常由上層的1-3層原子或分子決定(dìng) ，所以開爾文探針是一種的表面分析技術 。主(zhǔ)要型號 ：KP020 （單點(diǎn)開爾文探針） ，SKP5050（掃描開爾文探針） 。