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SIPDR電阻率(lǜ)測試夾具用於(yú)測量超材(cái)料(liào)和(hé)電阻膜的表面(miàn)阻抗 ，以(yǐ)及用於(yú)半導體晶片的電導率(lǜ)的非接觸式測量 ；可以(yǐ)測量的薄膜材(cái)料(liào)範圍包括(kuò)表面(miàn)阻抗Rs 20kΩ/sq的電阻層 、金(jīn)屬薄膜和(hé)導電聚合物(wù)薄膜 。
更新時(shí)間(jiān) ：2024-11-29
廠(chǎng)商性質 ：經(jīng)銷商
