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描述 :開(kāi)爾文探針(Kelvin Probe)是一(yī)種非接觸無損震蕩電容裝置 ,用於測量導(dǎo)體材料的功函數(shù)(Work Function)或(huò)半導(dǎo)體 、絕緣表面的表面勢(Surface Potential) 。材料表面的功函數(shù)通常由上層的1-3層原(yuán)子或(huò)分子決定 ,所以開(kāi)爾文探針是一(yī)種的表面分析技術 。主(zhǔ)要型號 :KP020 (單點開(kāi)爾文探針) ,SKP5050(掃描開(kāi)爾文探針) 。
| 品(pǐn)牌 | 其他品(pǐn)牌 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域(yù) | 化工 ,能(néng)源 ,電子/電池(chí) ,包(bāo)裝/造紙/印刷 ,電氣 |
開(kāi)爾文探針(Kelvin Probe)是一(yī)種非接觸無損震蕩電容裝置 ,用於測量導(dǎo)體材料的功函數(shù)(Work Function)或(huò)半導(dǎo)體 、絕緣表面的表面勢(Surface Potential) 。材料表面的功函數(shù)通常由上層的1-3層原(yuán)子或(huò)分子決定 ,所以開(kāi)爾文探針是一(yī)種的表面分析技術 。主(zhǔ)要型號 :KP020 (單點開(kāi)爾文探針) ,SKP5050(掃描開(kāi)爾文探針) 。
掃描開(kāi)爾文探針系統 (SKP)
:
SKP5050系統是一(yī)款可以被大多數(shù)客戶所接收的掃描開(kāi)爾文探針系統
,它(tā)是在SKP基礎之(zhī)上包(bāo)括了彩色相機(jī)/TFT顯示器
、2毫米和50微米探針
、外(wài)部數(shù)字示波(bō)鏡等配置
,其規格如下(xià)
:
□ 2毫米探針
,50微米探針(選配)
;
□ 功函數(shù)分辨率 1-3 meV(2毫米針尖)
,5-10 meV(50微米針尖)
;
□ 針尖到樣(yàng)品(pǐn)表面高度可以達到400納米以內
;
□ 表面勢和樣(yàng)品(pǐn)形貌3維(wéi)地圖
;
□ 探針掃描或(huò)樣(yàng)品(pǐn)掃描選配
;
□ 彩色相機(jī)
、調焦鏡頭
、TFT顯示器和專業的光學(xué)固定裝置
;
□ 參考樣(yàng)品(pǐn)(帶(dài)相應的掃描開(kāi)爾文探針系統的形貌)
;
□ 備用的針尖放大器
;
儀器特(tè)色
:
□ 一(yī)台商用的*意義上的開(kāi)爾文探針系統
;
□ 分辨率的功函數(shù)和表面勢
,的穩(wěn)定性和數(shù)據重現(xiàn)性
;
□ 非技術(Off-null
, ON) ——ON信號探測系統在高信號水(shuǐ)平下(xià)工作(zuò)
,與基於零信號原(yuán)理(null-based
, LIA)的系統相比(bǐ)
,不會(huì)收到噪(zào)聲的影(yǐng)響擁有高靈敏度
;
□ 高度調節技術 ——我們的儀器在測量和掃描時(shí)可以控制針尖的高度
。因為(wéi)功函數(shù)受樣(yàng)品(pǐn)形貌的影(yǐng)響
,針尖與樣(yàng)品(pǐn)表面距離的調節意味著數(shù)據的高重現(xiàn)性且不會(huì)漂移
;
□ 該領域(yù)內
,擁有的信噪(zào)比(bǐ)
;
□ 快速響應時(shí)間 ——測量速度在0.1-10秒間
,遠快於其他公司(sī)產(chǎn)品(pǐn)
;
□ 功能(néng)強的驅動器 ——選用Voice-coil(VC)驅動器
,與通常的壓電驅動器相比(bǐ)
,VC驅動器頻率要穩(wěn)定得多
、控制的針尖振幅大得多
、支持平行多探針操(cāo)作(zuò)
、支持不同直(zhí)徑探針操(cāo)作(zuò)
;
□ 所有開(kāi)爾文探針參數(shù)的全數(shù)字控制
;
ON | 非零探測 Off Null detection |
HR | 高度調節模式 Height Regulation mode |
SM | 實(shí)際開(kāi)爾文探針信號監(jiān)控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal |
UC | 用戶通道(dào) ,同時(shí)測量外(wài)部參數(shù) User Channels , simultaneous measurement of external parameters |
DC | 電流探測系統去除漂移效(xiào)應 Current Detection system rejects stray capacity effects |
PP | 平行板震動模式 Ideal , Parallel Plate Oscillation Mode |
SA | 信號平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) |
WA | 功函數(shù)平均 Work Function Averaging , Difference and Absolute reporting |
DC | 所有探針及探測參數(shù)的數(shù)字控制 Digital Control of all Probe and Detection Parameters |
QT | 針尖快速改變 Quick-change Tip , variable spatial resolution |
DE | 數(shù)據輸出 Data Export to Excel , Origin , or 3rd party software |
OC | 輸出通道(dào) Output Channel: TTL switching of external circuit |
FC | 法拉第籠(電磁干擾防護罩) Faraday Cage (EMI Shield) |
RS | 金-鋁參考樣(yàng)品(pǐn) Gold-Aluminium Reference Sample |
額外(wài)選配項 | |
SPV | 表面光伏(fú)電壓軟(ruǎn)硬件包(bāo) Surface Photovoltage Software and Hardware Package |
RH | 相對濕度腔 Relative Humidity Chamber |
AC | 控制氣體進口的環境單元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet |
EDS | 外(wài)部數(shù)據示波(bō)鏡 External Digital Oscilloscope |
OPT | 彩色相機(jī) Color Camera , TFT Screen and Optical Mounts |
ST | 針尖置換 Replacement Tips |
GCT | 鍍金的針尖替換 Gold Coated Replacement Tips |
XYZ | 25.4毫米手動3維(wéi)控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage |
應用領域(yù)
:
吸附
,電池(chí)系統
,生(shēng)物學(xué)和生(shēng)物技術
,催化作(zuò)用
,電荷分析
,塗層
,腐蝕
,沈積
,偶極層形成
,顯示技術
,教育
,光/熱(rè)散髮
,費米級掃描
,燃料電池(chí)
,離子化
,MEMs
,金屬(shǔ)
,微電子
,納米技術
,Oleds
,相轉變
,感光染色
,光伏(fú)譜學(xué)
,高分子半導(dǎo)體
,焦熱(rè)電
,半導(dǎo)體
,傳(chuán)感器
,皮膚
,太陽能(néng)電池(chí)
,表面污染
,表面化學(xué)
,表面光伏(fú)
,表面勢
,表面物理
,薄膜
,真空研究
,功函數(shù)工程學(xué)
;