美國(guó)APT開(kāi)爾文(wén)探針簡介(jiè) ：

   開(kāi)爾文(wén)探針是一種(zhǒng)基於振動電容的(de)非(fēi)接觸無損氣相環(huán)境金屬表面電位的(de)測量(liàng)技術(shù) ，用於測量(liàng)材料的(de)功函數(Work Function)或表面勢(Surface Potential) 。它可以用於檢測氣相環(huán)境中因溫度 、濕度 、表面的(de)化學 、電學 、力(lì)學 、晶體 、吸附 、成(chéng)膜等因素引起(qǐ)的(de)材料表面電勢的(de)微小(xiǎo)變化 ，是一種(zhǒng)高靈敏的(de)表面電化學分析技術(shù) ，是只有能夠測定(dìng)氣相環(huán)境中腐蝕電極表面電位的(de)方法 。

美國(guó)APT開(kāi)爾文(wén)探針電學特點(diǎn) ：

Current leakage: < 10 fA   (漏電精度高)

Frequency: > 150 MHz       (測試頻率高)

Capacitance (Guarded): < 10 fF

Impedance: 50 Ohm

Power Handling: > 125 Watts @ 18-21 Deg. C

Voltage Rating: > 250 Volts RMS @ sea level

備注 ：

APT開(kāi)爾文(wén)探針適用於四線法測試  ，以減小(xiǎo)線阻和接觸電阻對測試的(de)影響  ，保(bǎo)證小(xiǎo)電阻的(de)測試準確性 。

另外  ，一些高頻測試  ，比如150M左右 
，也(yě)可以採用這個 。

D.   GGB 12C有源(yuán)探頭

•輸入電容0.1pf

•輸入電阻1.0兆歐(ōu)

•工作電壓範圍 -10 to +20V

•帶(dài)寬dc to 500 MHz

• 12C夾具替換用探針  ( 12C-x-xx)

•射(shè)頻探針夾具源(yuán)  ，可以同時(shí)支(zhī)持(chí)兩個探頭使用  ( PS-2)

常用Model 40A系列

產品(pǐn)特點(diǎn) ：

( 1)   測試頻率範圍 ：      DC to 40 GHz

( 2)   輸入衰減   ≤ 0.8db

( 3)   反射(shè)損耗(hào)≧ 18 db

(4)   腳間(jiān)距:25 to 2540um可選  (腳間(jiān)距越大(dà)   ，    損耗(hào)越嚴重(zhòng))

( 5)   測試重(zhòng)復性優(yōu)於-80db

( 6)   單獨彈簧加(jiā)載觸點(diǎn)設計

( 7)   材質 ：      BeCu  , TungQRen or Nickel tips available

( 8)     GSG   ，    SG   ，    SG   ，    GSGSG 等可選

( 9)   同軸設計