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美國(guó)APT開(kāi)爾文(wén)探針簡介(jiè) :
開(kāi)爾文(wén)探針是一種(zhǒng)基於振動電容的(de)非(fēi)接觸無損氣相環(huán)境金屬表面電位的(de)測量(liàng)技術(shù) ,用於測量(liàng)材料的(de)功函數(Work Function)或表面勢(Surface Potential) 。它可以用於檢測氣相環(huán)境中因溫度 、濕度 、表面的(de)化學 、電學 、力(lì)學 、晶體 、吸附 、成(chéng)膜等因素引起(qǐ)的(de)材料表面電勢的(de)微小(xiǎo)變化 ,是一種(zhǒng)高靈敏的(de)表面電化學分析技術(shù) ,是只有能夠測定(dìng)氣相環(huán)境中腐蝕電極表面電位的(de)方法 。
美國(guó)APT開(kāi)爾文(wén)探針電學特點(diǎn) :
Current leakage: < 10 fA (漏電精度高)
Frequency: > 150 MHz (測試頻率高)
Capacitance (Guarded): < 10 fF
Impedance: 50 Ohm
Power Handling: > 125 Watts @ 18-21 Deg. C
Voltage Rating: > 250 Volts RMS @ sea level
備注 :
APT開(kāi)爾文(wén)探針適用於四線法測試 ,以減小(xiǎo)線阻和接觸電阻對測試的(de)影響 ,保(bǎo)證小(xiǎo)電阻的(de)測試準確性 。
另外 ,一些高頻測試 ,比如150M左右 ,也(yě)可以採用這個 。


D. GGB 12C有源(yuán)探頭
•輸入電容0.1pf
•輸入電阻1.0兆歐(ōu)
•工作電壓範圍 -10 to +20V
•帶(dài)寬dc to 500 MHz
• 12C夾具替換用探針 ( 12C-x-xx)
•射(shè)頻探針夾具源(yuán) ,可以同時(shí)支(zhī)持(chí)兩個探頭使用 ( PS-2)
常用Model 40A系列
產品(pǐn)特點(diǎn) :
( 1) 測試頻率範圍 : DC to 40 GHz
( 2) 輸入衰減 ≤ 0.8db
( 3) 反射(shè)損耗(hào)≧ 18 db
(4) 腳間(jiān)距:25 to 2540um可選 (腳間(jiān)距越大(dà) , 損耗(hào)越嚴重(zhòng))
( 5) 測試重(zhòng)復性優(yōu)於-80db
( 6) 單獨彈簧加(jiā)載觸點(diǎn)設計
( 7) 材質 : BeCu , TungQRen or Nickel tips available
( 8) GSG , SG , SG , GSGSG 等可選
( 9) 同軸設計